据韩媒报道，韩国仁荷大学宣布，电子工程系金亨镇教授团队开发出基于NAND闪存的硬件安全技术。

该团队开发了一种无法使用电容器结构进行物理复制的功能技术。物理不可克隆功能是在安全认证过程中利用半导体工艺过程中出现的不规则分布特性的技术。

NAND闪存采用串联结构，很难总结各个元件的不规则性，但研究团队采用了并联电容结构来弥补现有的缺点。

研究团队表示，该研究成果能够在国内使用NAND闪存的半导体企业额外开发核心技术时实现快速应用和技术领先。

研究负责人Kim Hung-jin 教授表示：“为了实现各种终端通信过程中所需的高级安全技术，有必要开发基于 NAND 等大容量存储半导体的物理不可克隆功能。我们将努力开发实用技术，引领技术创新。”

该研究团队开发的技术被国际电子器件管理协会（IEDM）指定为“Memcapacitor Crossbar Array with Charge Trapping Layer for Physical Unclonable Function in NAND Flash Architecture”。